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Electrochemical AFM study on uranium dioxide surfaces

Römer, J.; Plaschke, M.; Kim, J.I.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Nukleare Entsorgung (INE)
Publikationstyp Vortrag
Jahr 2000
Sprache Englisch
Identifikator KITopen ID: 230048351
HGF-Programm 33.03.02; LK 01
Erscheinungsvermerk 4th Internat.Conf.on the Development and Technological Application of Scanning Probe Methods (SXM4), Münster, September 25-27, 2000
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