Improved elemental quantification with plasma SNMS in the high frequency sputter mode using energy resolved data in an automated evaluation procedure
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Instrumentelle Analytik (IFIA) |
| Publikationstyp | Vortrag |
| Publikationsjahr | 2000 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | KITopen-ID: 230048393 |
| HGF-Programm | 22.03.03 (Vor POF, LK 01) |
| Erscheinungsvermerk | 11.Arbeitstagung Angewandte Oberflächenanalytik (AOFA 11), Leipzig, 24.-28.September 2000 |