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Improved elemental quantification with plasma SNMS in the high frequency sputter mode using energy resolved data in an automated evaluation procedure

Goschnick, J.; Natzeck, C.; Sommer, M.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Instrumentelle Analytik (IFIA)
Publikationstyp Vortrag
Jahr 2000
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 230048393
HGF-Programm 22.03.03 (Vor POF, LK 01)
Erscheinungsvermerk 11.Arbeitstagung Angewandte Oberflächenanalytik (AOFA 11), Leipzig, 24.-28.September 2000
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft
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