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Comparison of elemental quantification with plasma-based SNMS by using the primary ion argon and krypton

Goschnick, J.; Natzeck, C.; Sommer, M.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Instrumentelle Analytik (IFIA)
Publikationstyp Vortrag
Jahr 2000
Sprache Englisch
Identifikator KITopen ID: 230048396
HGF-Programm 22.03.03; LK 01
Erscheinungsvermerk 7th Internat.Workshop on Post-Ionization Techniques in Surface Analysis (PITSA 7), Karlsruhe, October 16-19, 2000
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