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Application of energy distributions for improved elemental analysis in HF- and DB-mode of plasma based SNMS

Goschnick, J.; Natzeck, C.; Sommer, M.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Instrumentelle Analytik (IFIA)
Publikationstyp Vortrag
Jahr 2000
Sprache Englisch
Identifikator KITopen ID: 230048565
HGF-Programm 61.02.02; LK 01
Erscheinungsvermerk 7th Internat.Workshop on Post-Ionization Techniques in Surface Analysis (PITSA 7), Karlsruhe, October 16-19, 2000
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