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Measuring thermophysical properties in thin films and microcomponents with photothermal methods

Rohde, M.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Materialforschung (IMF)
Publikationstyp Vortrag
Jahr 2000
Sprache Englisch
Identifikator KITopen ID: 230048739
HGF-Programm 41.03; LK 01
Erscheinungsvermerk 14th Symp.on Thermophysical Properties, Boulder, Colo., June 25-30, 2000
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