Measuring thermophysical properties in thin films and microcomponents with photothermal methods
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Materialforschung (IMF) |
| Publikationstyp | Vortrag |
| Publikationsjahr | 2000 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | KITopen-ID: 230048739 |
| HGF-Programm | 41.03 (Vor POF, LK 01) |
| Erscheinungsvermerk | 14th Symp.on Thermophysical Properties, Boulder, Colo., June 25-30, 2000 |