Zerstörungsfreie HF-Untersuchung von HTS-Schichten zur produktionsbegleitenden Wafer-Qualifizierung
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Materialforschung (IMF) |
| Publikationstyp | Vortrag |
| Publikationsjahr | 2000 |
| Sprache | Deutsch |
| Identifikator | KITopen-ID: 230048850 |
| HGF-Programm | 34.01.04 (Vor POF, LK 01) |
| Erscheinungsvermerk | Tagung Kryoelektrische Bauelemente 2000, Erlangen, 8.-10.Oktober 2000 |