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Bestimmung der Londonschen Eindringtiefe in doppelseitigem YBaCuO-Schichten auf Saphir

Zaitsev, A.; Schneider, R.; Linker, G.; Adam, M.; Ratzel, F.; Smithey, R.; Geerk, J.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Festkörperphysik (IFP)
Publikationstyp Vortrag
Jahr 2001
Sprache Deutsch
Identifikator KITopen ID: 230049128
HGF-Programm 45.01.02; LK 01
Erscheinungsvermerk 65.Physikertagung gemeinsam mit der Frühjahrstagung des Arbeitskreises Festkörperphysik der DPG, Hamburg, 26.-30. März 2001 Verhandlungen der Deutschen Physikalischen Gesellschaft, R.6, Bd.36 (2001) TT 28.1
URLs Abstract (HTML)
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