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Imaging of submicron particles by a transmitted electron detector and EDX analysis in a FE-SEM

Habicht, W.; Boukis, N.; Dinjus, E.



Zugehörige Institution(en) am KIT ITC – Bereich Chemisch-Physikalische Verfahren (ITC-CPV)
Publikationstyp Vortrag
Jahr 2001
Sprache Englisch
Identifikator KITopen ID: 230049827
HGF-Programm 44.04.03; LK 01
Erscheinungsvermerk 5th Multinat.Congress on Electron Microscopy, Lecce, I, September 20-25, 2001
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