Imaging of submicron particles by a transmitted electron detector and EDX analysis in a FE-SEM

Habicht, W.; Boukis, N.; Dinjus, E.

Zugehörige Institution(en) am KIT	ITC – Bereich Chemisch-Physikalische Verfahren (ITC-CPV)
Publikationstyp	Vortrag
Publikationsjahr	2001
Sprache	Englisch
Identifikator	KITopen-ID: 230049827
HGF-Programm	44.04.03 (Vor POF, LK 01)
Erscheinungsvermerk	5th Multinat.Congress on Electron Microscopy, Lecce, I, September 20-25, 2001

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