Imaging of submicron particles by a transmitted electron detector and EDX analysis in a FE-SEM
| Zugehörige Institution(en) am KIT | ITC – Bereich Chemisch-Physikalische Verfahren (ITC-CPV) |
| Publikationstyp | Vortrag |
| Publikationsjahr | 2001 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | KITopen-ID: 230049827 |
| HGF-Programm | 44.04.03 (Vor POF, LK 01) |
| Erscheinungsvermerk | 5th Multinat.Congress on Electron Microscopy, Lecce, I, September 20-25, 2001 |