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Pattern recognition techniques applied to the shape analysis of energy distributions in plasma SNMS

Goschnick, J.; Natzeck, C.; Sommer, M.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Instrumentelle Analytik (IFIA)
Publikationstyp Vortrag
Publikationsjahr 2001
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 230050686
HGF-Programm 12.03.03 (Vor POF, LK 01)
Erscheinungsvermerk 9th European Conf.on Applied Surface and Interface Analysis (ECASIA 01), Avignon, F, September 30 - October 5, 2001
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft
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