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Signal pattern analysis of SNMS and SIMS data obtained in dynamic mode sputtering

Goschnick, J.; Natzeck, C.; Sommer, M.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Instrumentelle Analytik (IFIA)
Publikationstyp Vortrag
Jahr 2001
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 230050786
HGF-Programm 12.03.03 (Vor POF, LK 01)
Erscheinungsvermerk 13th Internat.Conf.on Secondary Ion Mass Spectrometry (SIMS XIII), Nara, J, November 11-16, 2001
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