Signal pattern analysis of SNMS and SIMS data obtained in dynamic mode sputtering
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Instrumentelle Analytik (IFIA) |
| Publikationstyp | Vortrag |
| Publikationsjahr | 2001 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | KITopen-ID: 230050786 |
| HGF-Programm | 12.03.03 (Vor POF, LK 01) |
| Erscheinungsvermerk | 13th Internat.Conf.on Secondary Ion Mass Spectrometry (SIMS XIII), Nara, J, November 11-16, 2001 |