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Critical phenomena near the surface of antiferromagnetic single crystals and thin films studied by depth selective CEMS

Bhattacharya, S.; Stahl, B.; Ellrich, J.; Ghafari, M.; Hahn, H.; Schmitt, H.; Müller, M.; Ebert, J.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Nanotechnologie (INT)
Publikationstyp Vortrag
Publikationsjahr 2002
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 230051245
HGF-Programm 42.02.01 (Vor POF, LK 01)
Erscheinungsvermerk Frühjahrstagung des Arbeitskreises Festkörperphysik (AKF) der DPG, Regensburg, 11.-15.März 2002 Verhandlungen der Deutschen Physikalischen Gesellschaft, R.6, Bd.37 (2002) MA 15.8
Externe Relationen Abstract/Volltext
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