Overview of the TFMC phase II test procedure
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Technische Physik (ITEP) |
| Publikationstyp | Vortrag |
| Publikationsjahr | 2002 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | KITopen-ID: 230051550 |
| HGF-Programm | 31.03.01 (Vor POF, LK 01) |
| Erscheinungsvermerk | TF Conductor Insert Test Results and Analysis Meeting, St.Petersburg, Russia, February 27 - March 1, 2002 |