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Overview of the TFMC phase II test procedure

Fietz, W.H.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Technische Physik (ITEP)
Publikationstyp Vortrag
Jahr 2002
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 230051550
HGF-Programm 31.03.01 (Vor POF, LK 01)
Erscheinungsvermerk TF Conductor Insert Test Results and Analysis Meeting, St.Petersburg, Russia, February 27 - March 1, 2002
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft
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