Application of low-voltage SEM in technical chemistry: characterisation of submicron particles, bulk specimen and sensitive surfaces
| Zugehörige Institution(en) am KIT | ITC – Bereich Chemisch-Physikalische Verfahren (ITC-CPV) |
| Publikationstyp | Vortrag |
| Publikationsjahr | 2002 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | KITopen-ID: 230051880 |
| HGF-Programm | 44.04.03 (Vor POF, LK 01) |
| Erscheinungsvermerk | MicroScience 2002 - Internat.Conf.and Exhibition, London, GB, July 9-11, 2002 |