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Application of low-voltage SEM in technical chemistry: characterisation of submicron particles, bulk specimen and sensitive surfaces

Habicht, W.; Behrens, S.; Boukis, N.; Dinjus, E.



Zugehörige Institution(en) am KIT ITC – Bereich Chemisch-Physikalische Verfahren (ITC-CPV)
Publikationstyp Vortrag
Publikationsjahr 2002
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 230051880
HGF-Programm 44.04.03 (Vor POF, LK 01)
Erscheinungsvermerk MicroScience 2002 - Internat.Conf.and Exhibition, London, GB, July 9-11, 2002
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft
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