Second-harmonic and sum frequency microscopy to observe symmetry, order and chemical composition of interfaces
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Nukleare Entsorgung (INE) |
| Publikationstyp | Vortrag |
| Publikationsjahr | 2002 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | KITopen-ID: 230053111 |
| HGF-Programm | 32.25.04 (Vor POF, LK 01) |
| Erscheinungsvermerk | Vortr.: University of Namur, B, 28.November 2001 |