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Preparation of TEM samples using the FIB

Volkert, C.


Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Materialforschung (IMF)
Publikationstyp Vortrag
Publikationsjahr 2002
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 230053175
HGF-Programm 41.03.02 (Vor POF, LK 01)
Erscheinungsvermerk Vortr.: Max-Planck-Institut für Metallforschung, Stuttgart, 15.November 2002
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft
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