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Critical phenomena near the surface of antiferromagnetic single crystals and thin films studied by depth selective CEMS

Bhattacharya, S.; Stahl, B.; Ghafari, M.; Hahn, H.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Nanotechnologie (INT)
Publikationstyp Vortrag
Publikationsjahr 2003
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 230054003
HGF-Programm 42.02.01 (Vor POF, LK 01)
Erscheinungsvermerk Frühjahrstagung des Arbeitskreises Festkörperphysik (AKF) der DPG, Fachverband Dynamik und Statistische Physik (DY), Dresden, 24.-28. März 2003 Verhandlungen der Deutschen Physikalischen Gesellschaft, R.6, Bd. 38(2003) DY 37.5
Externe Relationen Abstract/Volltext
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