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Use of the focused ion beam (FIB) microscope in materials science

Volkert, C.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Materialforschung (IMF)
Publikationstyp Vortrag
Jahr 2003
Sprache Englisch
Identifikator KITopen ID: 230054011
HGF-Programm 41.03.02; LK 01
Erscheinungsvermerk Vortr.: Kolloquium, RWTH Aachen, 15.Januar 2003
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