Use of the focused ion beam (FIB) microscope in materials science
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Materialforschung (IMF) |
| Publikationstyp | Vortrag |
| Publikationsjahr | 2003 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | KITopen-ID: 230054011 |
| HGF-Programm | 41.03.02 (Vor POF, LK 01) |
| Erscheinungsvermerk | Vortr.: Kolloquium, RWTH Aachen, 15.Januar 2003 |