Source trip effects on transient ADS behaviour
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Reaktorsicherheit (IRS_CN) |
| Publikationstyp | Vortrag |
| Publikationsjahr | 2003 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | KITopen-ID: 230055314 |
| HGF-Programm | 32.23.05 (Vor POF, LK 01) |
| Erscheinungsvermerk | AccApp 03 : Accelerator Applications in a Nuclear Renaissance, San Diego, Calif., June 1-5, 2003 |