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Source trip effects on transient ADS behaviour

Dagan, R.; Broeders, C.H.M.; Struwe, D.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Reaktorsicherheit (IRS_CN)
Publikationstyp Vortrag
Jahr 2003
Sprache Englisch
Identifikator KITopen ID: 230055314
HGF-Programm 32.23.05; LK 01
Erscheinungsvermerk AccApp 03 : Accelerator Applications in a Nuclear Renaissance, San Diego, Calif., June 1-5, 2003
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