KIT | KIT-Bibliothek | Impressum | Datenschutz

Source trip effects on transient ADS behaviour

Dagan, R.; Broeders, C. H. M.; Struwe, D.


Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Reaktorsicherheit (IRS_CN)
Publikationstyp Vortrag
Publikationsjahr 2003
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 230055314
HGF-Programm 32.23.05 (Vor POF, LK 01)
Erscheinungsvermerk AccApp 03 : Accelerator Applications in a Nuclear Renaissance, San Diego, Calif., June 1-5, 2003
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft
KITopen Landing Page