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Preliminary test of Ni X-ray lenses at 200 keV photon energy

Nazmov, V.; Reznikova, E.; Mohr, J.; Saile, V.; Matthis, B.; Snigirev, A.; Snigireva, I.; Kuznetsov, S.; di Michiel, M.; Honkimiaki, V.; Grigoriev, M.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Mikrostrukturtechnik (IMT)
Publikationstyp Vortrag
Jahr 2003
Sprache Englisch
Identifikator KITopen ID: 230055379
HGF-Programm 51.04.04; LK 01
Erscheinungsvermerk Internat.Symp.on Optical Science and Technology, SPIE's 48th Annual Meeting, San Diego, Calif., August 3-8, 2003
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