Microstructure, Tsub(c) and transport critical current density of MgB₂ PIT conductors
Schlachter, S. I.
; Goldacker, W.; Liu, B.; Obst, B.; Orschulko, H.; Zimmer, S.; Reiner, J.
; Goldacker, W.; Liu, B.; Obst, B.; Orschulko, H.; Zimmer, S.; Reiner, J.| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Technische Physik (ITEP) |
| Publikationstyp | Vortrag |
| Publikationsjahr | 2003 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | KITopen-ID: 230055667 |
| HGF-Programm | 33.01.01 (Vor POF, LK 01) |
| Erscheinungsvermerk | 2003 Cryogenic Engineering Conf.(CEC) and Internat.Cryogenic Materials Conf.(ICMC), Anchorage, Alaska, September 22-26, 2003 |