Quantification and chemical classification of nitrogen using secondary neutral mass spectrometry for depth-resolved investigations
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Instrumentelle Analytik (IFIA) |
| Publikationstyp | Vortrag |
| Publikationsjahr | 2003 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | KITopen-ID: 230055771 |
| HGF-Programm | 12.03.03 (Vor POF, LK 01) |
| Erscheinungsvermerk | 10th European Conf.on Applications of Surface and Interface Analysis (ECASIA'03), Berlin, October 5-10, 2003 |