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Quantification and chemical classification of nitrogen using secondary neutral mass spectrometry for depth-resolved investigations

Sommer, M.; Goschnick, J.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Instrumentelle Analytik (IFIA)
Publikationstyp Vortrag
Publikationsjahr 2003
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 230055771
HGF-Programm 12.03.03 (Vor POF, LK 01)
Erscheinungsvermerk 10th European Conf.on Applications of Surface and Interface Analysis (ECASIA'03), Berlin, October 5-10, 2003
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft
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