Illustrative application of the adjoint sensitivity analysis procedure to reliability models of electromechanical devices
Ionescu-Bujor, M.
; Cacuci, D. G.
; Cacuci, D. G.| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Reaktorsicherheit (IRS_CN) |
| Publikationstyp | Vortrag |
| Publikationsjahr | 2003 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | KITopen-ID: 230055977 |
| HGF-Programm | 31.02.03 (Vor POF, LK 01) |
| Erscheinungsvermerk | SIELMEN 2003 : 4th Internat.Conf.on Electrochemical and Energetic Systems, Chisinau, MD, September 26-27, 2003 |