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Illustrative application of the adjoint sensitivity analysis procedure to reliability models of electromechanical devices

Ionescu-Bujor, M. ORCID iD icon; Cacuci, D. G.


Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Reaktorsicherheit (IRS_CN)
Publikationstyp Vortrag
Publikationsjahr 2003
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 230055977
HGF-Programm 31.02.03 (Vor POF, LK 01)
Erscheinungsvermerk SIELMEN 2003 : 4th Internat.Conf.on Electrochemical and Energetic Systems, Chisinau, MD, September 26-27, 2003
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft
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