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Illustrative application of the adjoint sensitivity analysis procedure to reliability models of electromechanical devices

Ionescu-Bujor, M.; Cacuci, D.G.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Reaktorsicherheit (IRS_CN)
Publikationstyp Vortrag
Jahr 2003
Sprache Englisch
Identifikator KITopen ID: 230055977
HGF-Programm 31.02.03; LK 01
Erscheinungsvermerk SIELMEN 2003 : 4th Internat.Conf.on Electrochemical and Energetic Systems, Chisinau, MD, September 26-27, 2003
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