Vergleich von 3D-Messverfahren. Von Extended Fokus bis Rastermikroskopie
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Materialforschung (IMF) |
| Publikationstyp | Vortrag |
| Publikationsjahr | 2003 |
| Sprache | Deutsch |
| Identifikator | KITopen-ID: 230056625 |
| HGF-Programm | 31.02.02 (Vor POF, LK 01) |
| Erscheinungsvermerk | PhotonicNet Forum Materialmikroskopie : Neue Methoden zur qualitativen und quantitativen Mikrostrukturanalyse, Wetzlar, 30.September 2003 |