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Length scale effects in fatigue of Cu thin films

Mönig, R.; Zhang, G.P.; Volkert, C.A.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Materialforschung (IMF)
Publikationstyp Vortrag
Jahr 2004
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 230056767
HGF-Programm 41.03.03 (POF I, LK 01)
Erscheinungsvermerk Fall Meeting 2003 of the Materials Research Society, Boston, Mass., December 1-5, 2003
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