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Imaging SAMs based on μ-CP in terms of dynamic friction, adhesion and stiffness using the digital pulsed force mode technology

Gigler, A.; Spizig, P.; Walheim, S.; Marti, O.; Schimmel, T.


Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Nanotechnologie (INT)
Publikationstyp Vortrag
Publikationsjahr 2004
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 230057216
HGF-Programm 42.02.02 (POF I, LK 01) Nanoskalige Schichtsysteme u.Oberflächen
Erscheinungsvermerk Frühjahrstagung des Arbeitskreises Festkörperphysik (AKF) der DPG, Fachverband Chemische Physik und Polymerphysik, Regensburg, 8.-12.März 2004 Verhandlungen der Deutschen Physikalischen Gesellschaft, R.6, Bd. 39(2004) CPP 2.3
Externe Relationen Abstract/Volltext
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