Semi-supervised detection of patterns in images

Beller, M.; Gemmeke, H.; Müller, T. O.

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Zugehörige Institution(en) am KIT	Institut für Prozessdatenverarbeitung und Elektronik (IPE)
Publikationstyp	Vortrag
Publikationsjahr	2005
Sprache	Englisch
Identifikator	KITopen-ID: 230060219
HGF-Programm	41.01.08 (POF I, LK 01) Ultraschall-CT
Erscheinungsvermerk	3rd Iranian Conf.on Machine Vision, Image Processing and Applications (MVIP 2005), Tehran, IR, February 23-24, 2005