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Optical microscanner with large deflection angle

Brugger, D.; Kohl, M.; Krevet, B.; Winzek, B.; Schmitz, S.


Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Mikrostrukturtechnik (IMT)
Publikationstyp Vortrag
Publikationsjahr 2005
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 230060259
HGF-Programm 41.04.01 (POF I, LK 01) Nachrichtentechnik
Erscheinungsvermerk 18th IEEE Internat.Conf.on Micro Electro Mechanical Systems (MEMS 2005), Miami, Fla., January 30 - February 3, 2005
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