Characterization of epitacially laterally overgrown GaN structures by micrometer-resolved X-ray rocking curve imaging

Lübbert, D.; Baumbach, T.; Mikulik, P.; Pernot, P.; Helfen, L.; Keller, S.; Den Baars, S.

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Zugehörige Institution(en) am KIT	Institut für Synchrotronstrahlung (ISS)
Publikationstyp	Vortrag
Publikationsjahr	2005
Sprache	Englisch
Identifikator	KITopen-ID: 230061201
HGF-Programm	55.51.05 (POF I, LK 01)
Erscheinungsvermerk	Physik seit Albert Einstein : 69.Jahrestagung der DPG, Berlin, 4.-9.März 2005 Verhandlungen der Deutschen Physikalischen Gesellschaft, R.6, B.40(2005) HL 43.7
Externe Relationen	Abstract/Volltext