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Characterization of epitacially laterally overgrown GaN structures by micrometer-resolved X-ray rocking curve imaging

Lübbert, D.; Baumbach, T.; Mikulik, P.; Pernot, P.; Helfen, L.; Keller, S.; Den Baars, S.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Synchrotronstrahlung (ISS)
Publikationstyp Vortrag
Jahr 2005
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 230061201
HGF-Programm 55.51.05 (POF I, LK 01)
Erscheinungsvermerk Physik seit Albert Einstein : 69.Jahrestagung der DPG, Berlin, 4.-9.März 2005 Verhandlungen der Deutschen Physikalischen Gesellschaft, R.6, B.40(2005) HL 43.7
Externe Relationen Abstract/Volltext
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