Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Mikrostrukturtechnik (IMT) |
Publikationstyp | Vortrag |
Publikationsjahr | 2005 |
Sprache | Englisch |
Identifikator | KITopen-ID: 230061876 |
HGF-Programm | 41.04.02 (POF I, LK 01) Sensorik |
Erscheinungsvermerk | SPIE Internat.Symp.Optical Metrology 2005, München, June 13-17, 2005 |