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Surface analytical characterization of nanoscale ceramic gradient membranes

Trouillet, V.; Müller, H.; Nold, E.; Bruns, M.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Instrumentelle Analytik (IFIA)
Institut für Materialforschung - Angewandte Werkstoffphysik (IMF1) (IMF1)
Publikationstyp Vortrag
Jahr 2005
Sprache Englisch
Identifikator KITopen ID: 230062158
HGF-Programm 41.05.01; LK 01
Erscheinungsvermerk 11th European Conf.on Applications of Surface and Interface Analysis (ECASIA'05), Wien, A, September 25-30, 2005
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