Nanostructure enhanced electronic nose microsystem

Goschnick, J.; Hahn, H.; Schneider, T.; Shankar, R.; Sommer, M.; Sysoev, V.

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Zugehörige Institution(en) am KIT	Institut für Instrumentelle Analytik (IFIA) Institut für Nanotechnologie (INT)
Publikationstyp	Vortrag
Publikationsjahr	2005
Sprache	Englisch
Identifikator	KITopen-ID: 230062636
HGF-Programm	41.05.01 (POF I, LK 01) MOX-Sensoren
Erscheinungsvermerk	Frontiers Annual Meeting, Karlsruhe, September 19-21, 2005