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Sicherheitstest in einem nanoskaligen H-Speichermaterial

Lohstroh, W.; Fichtner, M.; Breitung, W.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Nanotechnologie (INT)
Publikationstyp Vortrag
Jahr 2005
Sprache Deutsch
Identifikator KITopen ID: 230063214
HGF-Programm 42.02.03; LK 01
Erscheinungsvermerk Wasserstofftag, Karlsruhe, 14.November 2005 (Poster)
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