KIT | KIT-Bibliothek | Impressum | Datenschutz

Biaxial fatigue testing of micro-optical components

Eve, S.; Ernst, E.; Last, A.; Rabus, D.; Huber, N.; Kraft, O.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Mikrostrukturtechnik (IMT)
Institut für Materialforschung - Werkstoff- und Biomechanik (IMF2) (IMF2)
Publikationstyp Vortrag
Jahr 2006
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 230064180
HGF-Programm 43.01.05 (POF I, LK 01)
Erscheinungsvermerk NEMO Scientific Networking Meeting, Karlsruhe, February 9-10, 2006
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft
KITopen Landing Page