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Fatigue of thin metal films at the submicron and nano scale

Wang, D.; Volkert, C.; Eve, S.; Huber, N.; Zhang, G.P.; Kraft, O.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Materialforschung - Werkstoff- und Biomechanik (IMF2) (IMF2)
Publikationstyp Vortrag
Jahr 2006
Sprache Englisch
Identifikator KITopen ID: 230064418
HGF-Programm 43.03.02; LK 01
Erscheinungsvermerk MRS Spring Meeting, San Francisco, Calif., April 17-21, 2006
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