Fatigue of thin metal films at the submicron and nano scale
Wang, D.
; Volkert, C.; Eve, S.; Huber, N.; Zhang, G. P.; Kraft, O.
; Volkert, C.; Eve, S.; Huber, N.; Zhang, G. P.; Kraft, O.| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Materialforschung - Werkstoff- und Biomechanik (IMF2) (IMF2) |
| Publikationstyp | Vortrag |
| Publikationsjahr | 2006 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | KITopen-ID: 230064418 |
| HGF-Programm | 43.03.02 (POF I, LK 01) Größenabhängige Eigenschaften |
| Erscheinungsvermerk | MRS Spring Meeting, San Francisco, Calif., April 17-21, 2006 |