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Lateral tip movement and atomic-scale stick-slip processes during scanning force microscopy on calcite surfaces

Müller, M.; Schimmel, Th.


Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Nanotechnologie (INT)
Publikationstyp Vortrag
Publikationsjahr 2006
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 230065784
HGF-Programm 43.03.03 (POF I, LK 01) Grenzflächenabhängige Eigenschaften
Erscheinungsvermerk Internat.Conf.on Nanoscience and Technology (ICN+T), Basel, CH, July 30 - August 4, 2006
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