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Force constants and detection sensitivities of V-shaped cantilevers for atomic force microscopy under normal and lateral force loads

Müller, M.; Schimmel, Th.; Fettig, H.; Häussler, P.; Müller, O.; Albers, A.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Nanotechnologie (INT)
Publikationstyp Vortrag
Jahr 2006
Sprache Englisch
Identifikator KITopen ID: 230065785
HGF-Programm 43.03.03; LK 01
Erscheinungsvermerk Internat.Conf.on Nanoscience and Technology (ICN+T), Basel, CH, July 30 - August 4, 2006
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