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Berechnung von Tiefenkarten aus Fokus- und Beleuchtungsserien

Köhler, B.; Eberle, F.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Angewandte Informatik (IAI)
Publikationstyp Vortrag
Jahr 2006
Sprache Deutsch
Identifikator KITopen-ID: 230066287
HGF-Programm 43.01.06 (POF I, LK 01)
Erscheinungsvermerk Industrial Vision Days 2006, Stuttgart, November 7-9, 2006
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