Zum Einsatz von XPS für die Entwicklung von Mikroanalyse-Systemen, bei Qualitätskontrollen und umweltrelevanten Fragestellungen
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Materialforschung - Werkstoffprozesstechnik (IMF3) (IMF3) |
| Publikationstyp | Vortrag |
| Publikationsjahr | 2006 |
| Sprache | Deutsch |
| Identifikator | KITopen-ID: 230066467 |
| HGF-Programm | 43.01.06 (POF I, LK 01) Applikations-u.Transferlaboratorien |
| Erscheinungsvermerk | Neueste Entwicklungen in der XPS-Technologie, Workshop, Dreieich, 28.-29.November 2006 |