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Zum Einsatz von XPS für die Entwicklung von Mikroanalyse-Systemen, bei Qualitätskontrollen und umweltrelevanten Fragestellungen

Bruns, M.


Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Materialforschung - Werkstoffprozesstechnik (IMF3) (IMF3)
Publikationstyp Vortrag
Publikationsjahr 2006
Sprache Deutsch
Identifikator KITopen-ID: 230066467
HGF-Programm 43.01.06 (POF I, LK 01) Applikations-u.Transferlaboratorien
Erscheinungsvermerk Neueste Entwicklungen in der XPS-Technologie, Workshop, Dreieich, 28.-29.November 2006
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