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Zum Einsatz von XPS für die Entwicklung von Mikroanalyse-Systemen, bei Qualitätskontrollen und umweltrelevanten Fragestellungen

Bruns, M.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Materialforschung - Werkstoffprozesstechnik (IMF3) (IMF3)
Publikationstyp Vortrag
Jahr 2006
Sprache Deutsch
Identifikator KITopen ID: 230066467
HGF-Programm 43.01.06; LK 01
Erscheinungsvermerk Neueste Entwicklungen in der XPS-Technologie, Workshop, Dreieich, 28.-29.November 2006
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