Length-scale effects on fatigue of thin Cu films
Wang, D.
; Volkert, C. A.; Gruber, P.; Kraft, O.
; Volkert, C. A.; Gruber, P.; Kraft, O.| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Materialforschung - Werkstoff- und Biomechanik (IMF2) (IMF2) |
| Publikationstyp | Vortrag |
| Publikationsjahr | 2006 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | KITopen-ID: 230066535 |
| HGF-Programm | 43.01.05 (POF I, LK 01) Charakterisierung u.Zuverlässigkeit |
| Erscheinungsvermerk | Fall Meeting 2006 of the Materials Research Society, Boston, Mass., November 27 - December 1, 2006 |