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Length-scale effects on fatigue of thin Cu films

Wang, D. ORCID iD icon; Volkert, C. A.; Gruber, P.; Kraft, O.


Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Materialforschung - Werkstoff- und Biomechanik (IMF2) (IMF2)
Publikationstyp Vortrag
Publikationsjahr 2006
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 230066535
HGF-Programm 43.01.05 (POF I, LK 01) Charakterisierung u.Zuverlässigkeit
Erscheinungsvermerk Fall Meeting 2006 of the Materials Research Society, Boston, Mass., November 27 - December 1, 2006
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