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Epitaxial lateral overgrowth of GaN studied by X-ray micro-diffraction imaging

Baumbach, T.; Lübbert, D.; Holy, V.; Mikulik, P.; Helfen, L.; Pernot, P.; Elyyan, M.; Keller, S.; Haskell, B.; Speck, J.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Synchrotronstrahlung (ISS)
Publikationstyp Vortrag
Jahr 2006
Sprache Englisch
Identifikator KITopen ID: 230066973
HGF-Programm 55.51.21; LK 02
Erscheinungsvermerk 8th Bienneal Conf.on High Resolution X-Ray Diffraction and Imaging (XTOP 2006), Baden-Baden, September 19-22, 2006 Book of Abstracts
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