Contamination monitoring of inert process gases with a gradient gas sensor microarray
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Mikrostrukturtechnik (IMT) |
| Publikationstyp | Vortrag |
| Publikationsjahr | 2007 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | KITopen-ID: 230067339 |
| HGF-Programm | 31.40.06 (POF I, LK 01) Hochtemp. Heliumtechnologie (HELOKA) |
| Erscheinungsvermerk | 58th Pittsburgh Conf.on Analytical Chemistry and Applied Spectroscopy (PITTCON 2007), Chicago, Ill., February 25 - March 2, 2007 |