KIT | KIT-Bibliothek | Impressum | Datenschutz

Fatigue at the sub-micron and nano-scale

Kraft, O.; Wang, D. ORCID iD icon; Weygand, D.; Volkert, C. A.


Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Materialforschung - Werkstoff- und Biomechanik (IMF2) (IMF2)
Publikationstyp Vortrag
Publikationsjahr 2007
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 230067345
HGF-Programm 43.01.05 (POF I, LK 01) Charakterisierung u.Zuverlässigkeit
Erscheinungsvermerk 136th Annual Meeting and Exhibition of the Minerals, Metals and Materials Society (TMS 2007), Orlando, Fla., February 25 - March 1, 2007
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft
KITopen Landing Page