Fatigue at the sub-micron and nano-scale
Kraft, O.; Wang, D.
; Weygand, D.; Volkert, C. A.
; Weygand, D.; Volkert, C. A.| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Materialforschung - Werkstoff- und Biomechanik (IMF2) (IMF2) |
| Publikationstyp | Vortrag |
| Publikationsjahr | 2007 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | KITopen-ID: 230067345 |
| HGF-Programm | 43.01.05 (POF I, LK 01) Charakterisierung u.Zuverlässigkeit |
| Erscheinungsvermerk | 136th Annual Meeting and Exhibition of the Minerals, Metals and Materials Society (TMS 2007), Orlando, Fla., February 25 - March 1, 2007 |