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How to measure diffusion lengths in the sub-nanometer range?

Schmidt, H.; Gutberlet, T.; Bruns, M.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Materialforschung - Werkstoffprozesstechnik (IMF3) (IMF3)
Publikationstyp Vortrag
Jahr 2007
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 230067463
HGF-Programm 43.03.06 (POF I, LK 01)
Erscheinungsvermerk 71.Jahrestagung der Deutschen Physikalischen Gesellschaft und DPG Frühjahrstagung des Arbeitskreises Festkörperphysik, Fachverband Metall- und Materialphysik, Regensburg, 26.-30.März 2007 Verhandlungen der Deutschen Physikalischen Gesellschaft, R.6, B.42(2007) MM 38.2
Externe Relationen Volltext/Abstract
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