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In-situ TEM Untersuchung von Sinterprozessen in nanopartikulären Schichten

Theissmann, R.


Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Nanotechnologie (INT)
Publikationstyp Vortrag
Publikationsjahr 2007
Sprache Deutsch
Identifikator KITopen-ID: 230067851
HGF-Programm 43.03.10 (POF I, LK 01) Druckbare Elektronik
Erscheinungsvermerk Vortr.: Leibniz-Institut für Festkörper- und Werkstoffforschung (IFW), Dresden, 16.Mai 2007
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