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Trapped ion electron diffraction: a method for structure determination of cluster ions

Schooss, D.; Blom, M.N.; Lechtken, A.; Stairs, J.; Kappes, M.M.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Nanotechnologie (INT)
Publikationstyp Vortrag
Jahr 2007
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 230068141
HGF-Programm 43.03.06 (POF I, LK 01)
Erscheinungsvermerk 12th European Symp.on Gas Electron Diffraction, Blaubeuren, 24.-28.Juni 2007
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