Trapped ion electron diffraction: a method for structure determination of cluster ions
Schooss, D.
; Blom, M. N.; Lechtken, A.; Stairs, J.; Kappes, M. M.
; Blom, M. N.; Lechtken, A.; Stairs, J.; Kappes, M. M.| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Nanotechnologie (INT) |
| Publikationstyp | Vortrag |
| Publikationsjahr | 2007 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | KITopen-ID: 230068141 |
| HGF-Programm | 43.03.06 (POF I, LK 01) Konstitution, Synthese u.Processing |
| Erscheinungsvermerk | 12th European Symp.on Gas Electron Diffraction, Blaubeuren, 24.-28.Juni 2007 |