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Focused ion beam microscopy: characterisation and micro-machining

Volkert, C.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Materialforschung - Werkstoff- und Biomechanik (IMF2) (IMF2)
Publikationstyp Vortrag
Jahr 2007
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 230068417
HGF-Programm 43.01.05 (POF I, LK 01)
Erscheinungsvermerk Vortr.: Royal Institute of Technology (KTH), Stockholm, S, 18.Juni 2007
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