Chemical patterning and chemical contrast imaging with the Tip of an atomic force microscope
Walheim, S.; Barczewski, M.
; Gröger, R.; Müller, M.; Pfrang, A.; Riedel, B.; Obermair, C.; Koch, T.; Schimmel, T.
; Gröger, R.; Müller, M.; Pfrang, A.; Riedel, B.; Obermair, C.; Koch, T.; Schimmel, T.| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Nanotechnologie (INT) |
| Publikationstyp | Vortrag |
| Publikationsjahr | 2007 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | KITopen-ID: 230069064 |
| HGF-Programm | 43.03.06 (POF I, LK 01) Konstitution, Synthese u.Processing |
| Erscheinungsvermerk | Nanoscale Phenomena : Fundamentals and Applications, Kishinev, MD, September 20-22, 2007 |