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Chemical patterning and chemical contrast imaging with the Tip of an atomic force microscope

Walheim, S.; Barczewski, M.; Gröger, R.; Müller, M.; Pfrang, A.; Riedel, B.; Obermair, C.; Koch, T.; Schimmel, T.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Nanotechnologie (INT)
Publikationstyp Vortrag
Jahr 2007
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 230069064
HGF-Programm 43.03.06 (POF I, LK 01)
Erscheinungsvermerk Nanoscale Phenomena : Fundamentals and Applications, Kishinev, MD, September 20-22, 2007
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