Rasterelektronenmikroskopie und Rastersondenmikroskopie - komplementäre Verfahren zur hochauflösenden Untersuchung von Oberflächen
Ziebert, C.
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Materialforschung - Angewandte Werkstoffphysik (IMF1) (IMF1) |
| Publikationstyp | Vortrag |
| Publikationsjahr | 2007 |
| Sprache | Deutsch |
| Identifikator | KITopen-ID: 230069367 |
| HGF-Programm | 43.03.09 (POF I, LK 01) Mechanische Eigenschaften |
| Erscheinungsvermerk | 17.FIF-Workshop, Stuttgart-Vaihingen, 11.-12.Oktober 2007 |