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Sub-μm resolved elemental imaging using a SR X-ray microprobe with polymer CRLs

Simon, R.


Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Synchrotronstrahlung (ISS)
Publikationstyp Vortrag
Publikationsjahr 2007
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 230070318
HGF-Programm 43.01.05 (POF I, LK 01) Charakterisierung u.Zuverlässigkeit
Erscheinungsvermerk 2007 Sino German High Level Expert Symp.on X-Ray Optics, Shanghai, China, April 15-20, 2007
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft
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