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Raman-spectroscopy for measuring concentration profiles within micro channels

Rinke, G.; Ewinger, A.; Kerschbaum, S.; Schubert, K.; Rinke, M.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Materialforschung - Angewandte Werkstoffphysik (IMF1) (IMF1)
Institut für Mikroverfahrenstechnik (IMVT)
Publikationstyp Vortrag
Jahr 2008
Sprache Englisch
Identifikator KITopen ID: 230070824
HGF-Programm 43.01.07; LK 01
Erscheinungsvermerk Laser Optics Berlin : Internat.Trade Fair and Convention for Optical and Laser Technologies, Berlin, March 17-19, 2008
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