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Raman-spectroscopy for measuring concentration profiles within micro channels

Rinke, G.; Ewinger, A.; Kerschbaum, S.; Schubert, K.; Rinke, M.


Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Materialforschung - Angewandte Werkstoffphysik (IMF1) (IMF1)
Institut für Mikroverfahrenstechnik (IMVT)
Publikationstyp Vortrag
Publikationsjahr 2008
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 230070824
HGF-Programm 43.01.07 (POF I, LK 01) Mikroverfahrenstechnische Systeme
Erscheinungsvermerk Laser Optics Berlin : Internat.Trade Fair and Convention for Optical and Laser Technologies, Berlin, March 17-19, 2008
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